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首頁-產品展示-SEM臺式掃描電鏡-SNE-4500M Plus-賽可(SEC)SNE-4500M Plus臺式掃描電鏡

臺式掃描電鏡

更新時間:2024-01-19

產品型號:賽可(SEC)SNE-4500M Plus

簡要描述:賽可(SEC)SNE-4500M Plus臺式掃描電鏡:賽可公司總部位于韓國水原市,是專業從事掃描電子顯微鏡和X-RAY檢測設備研發、生產的公司。自2006年推出臺式電鏡以來,賽可憑借其優秀的生產工藝和持續的技術創新,在國內外擁有眾多的用戶。高性能·高分辨率(5nm)臺式電鏡。

  • 企業實力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

    賽可(SEC)SNE-4500MPlus臺式掃描電鏡簡介:

    NE-4500MPlus是一款高性能,高配置的產品。

    賽可(SEC)SNE-4500MPlus臺式掃描電鏡特點:

    高性能·高分辨率(5nm)臺式電鏡。

    一、分辨率高

    SNE-4500MPlus實現了落地式鎢燈絲掃描電鏡的小型化。其采用與大電鏡相同的電子光學系統,兩級聚光鏡一級物鏡,標配高真空和二次電子檢測器,可實現分辨率5nm@30kV(SE),擁有與大電鏡相媲美的性能。

    二、加速電壓范圍寬

    低加速電壓激發出的樣品深層電子少,可以更真實地反應出樣品表面形貌信息;且低加速電壓對高分子材料等不耐電子束輻照的樣品損傷小。而高加速電壓可以激發出更多的電子信號,有利于能譜等分析功能。SNE-4500MPlus的加速電壓為1kV~30kV,適合各種樣品的形貌觀察及元素分析,適用范圍廣。

    三、二次電子和背散射電子同時成像

    二次電子圖像體現樣品表面的形貌信息,分辨率高,立體感強。背散射電子像則更多地體現樣品的組分和晶向信息。SNE-4500MPlus配置了二次電子檢測器和四分割背散射電子檢測器,可同時采集和顯示二次電子像和背散射電子像,并可實現兩種圖像疊加,方便用戶更直觀地觀察樣品的各類信息。

    四、兼具高、低真空模式,自動切換

    對于一些導電性差的樣品(如纖維)、潮濕的樣品(如植物葉片)、多孔的樣品(如水泥)、不可鍍金的不導電樣品(如PCB)等等,如果在高真空模式下觀察,在不鍍金的情況下往往荷電嚴重,無法觀察到理想形貌。而采用低真空模式可以解決以上問題。低真空是指在樣品倉內通入一定量的空氣,電子束散射的一部分電子電離空氣分子,其中正電荷和不導電樣品表面的多余負電荷相中和達到消除荷電的目的。SNE-4500MPlus具有高真空和低真空模式,自動切換,能適應各類樣品的觀察。

    五、大樣品倉、五軸全自動馬達臺

    SNE-4500MPlus標配五軸全自動馬達臺的機型。通過鼠標或鍵盤操作,可實現X、Y、Z、R(旋轉)和T(傾斜)五軸的自動移動,有利于多角度精細地觀察樣品。-45°~90°大范圍的傾斜角度,可以在不更換特定樣品臺的情況下直接進行截面觀察。

    可放置的樣品尺寸為80mm(D)*50mm(H),兼容性強,省去了制樣的麻煩。

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