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首頁-產品展示--X-Ray檢測設備-X-eye SF160F/N Series賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/N Series

賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/N Series

更新時間:2024-01-19

產品型號:X-eye SF160F/N Series

簡要描述:賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現3次
元(3D)影像中進行正確的分析出不良的種類,位置及大小。

  • 企業實力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/N Series簡介:

1.X-RAY INSPECTION SYSTEM:

搭載高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能檢測設備,實現高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外,用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現3次元(3D)影像中進行正確的分析出不良的種類,位置及大小。


2.X-ray Simple & Easy 3D CT:

1).半導體,電子產品,封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備(大型PCB可進行非破壞性CT分析)
2).可搭載Option自動檢測S/W,通過手動裝料后的自動檢測,可實現產品全檢
3).最大可實現550 x 650mm尺寸的產品不良檢測
4).通過Dual CT (Oblique CT, Cone-beam CT)方式的3D檢測,提供高分辨率,高精度的分析檢測環境
5).可搭載長壽命Filament,利于用戶使用便利性(可適用于量產檢測)


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賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/N Series等,歡迎咨詢上海賽可,我們為您提供賽可(SEC)X-RAY檢測設備 的參數、價格、型號、原理等信息,賽可(SEC)X-RAY檢測設備 SF160F/N Series產地為韓國、品牌為賽可,歡迎大家咨詢。

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